企業(yè)介紹：

作為制造商和系統(tǒng)供應(yīng)商,HOMMEL ETAMIC為工業(yè)生產(chǎn)過程提供廣泛的測量和測試技術(shù)組合。它包括用于氣動,觸覺或光學(xué)測量和檢查粗糙度,輪廓,形狀和尺寸以及表面光學(xué)檢測的高精度技術(shù)。

HOMMEL ETAMIC 提供標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)和定制解決方案。針對汽車、航空航天、醫(yī)療技術(shù)和其他制造行業(yè)的工業(yè)生產(chǎn)量身定制的測量和測試系統(tǒng)靈活多樣。HOMMEL ETAMIC 對其進(jìn)行個性化設(shè)計,以滿足測量任務(wù)、自動化程度和位置的要求。結(jié)果將被記錄和存儲。

產(chǎn)品簡介：

霍梅爾-艾達(dá)米克W20便攜式粗糙度儀:霍梅爾便攜式粗糙度儀HOMMEL-ETAMIC W20

德國HOMMEL粗糙度儀/表面粗糙度檢測儀霍梅爾-艾達(dá)米克W20特點(diǎn)一覽：

1，探測**-由于采用了無導(dǎo)頭的探測系統(tǒng)，所以可移動測量所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)。

2，定*位自動-配置了電動測頭降低系統(tǒng)，所以測頭可自動在工件表面定位并提起。

3，測量靈活-內(nèi)裝蓄電池，所以使用時不需外部電源，盡顯移動測量的靈活性。

4，信息廣*泛-可顯示特性參數(shù)、微觀輪廓圖形、支撐率曲線和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

5，操作簡單-通過配置上下文提示功能鍵的觸摸屏，操作簡單。

6，記錄方便-集成了打印機(jī)、可即時記錄測量結(jié)果文件，簡單方便。

7，測量可靠-通過內(nèi)置的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊可即時檢測測量儀，保證了測量的可靠性。

 德國HOMMEL粗糙度儀/表面粗糙度檢測儀霍梅爾-艾達(dá)米克W20技術(shù)參數(shù)：

非滑靴式粗糙度測頭，*大掃描長度 20mm，截止波長0.25/0.8/2.5mm

可設(shè)置7種程序，并配置獨(dú)立的評估條件

4.3寸彩色觸摸顯示屏

可直觀顯示相關(guān)參數(shù)、輪廓、曲線及統(tǒng)計數(shù)據(jù)

德國HOMMEL粗糙度儀霍梅爾-艾達(dá)米克W20內(nèi)置打印機(jī)

內(nèi)存可容納 2000 個數(shù)據(jù)及 500 條輪廓數(shù)據(jù)

USB 電纜可與電腦連接

Waveline 20 驅(qū)動單元，驅(qū)動長度 20mm，直線度 0.2um/20mm

自動回零功能，調(diào)平范圍 ±2°

測針TTKL 300L 2um/90°，測量范圍 300um

使用操作：

探測全面-由于采用了無導(dǎo)頭探測系統(tǒng)，所以可移動測量所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)

定位自動-配置了電動測頭降低系統(tǒng)，所以測頭可自動在工件表面定位和提起

測量靈活-內(nèi)置蓄電池，所以使用時不需外接電源，盡顯移動測量的靈活性

信息廣泛-可顯示特性參數(shù)，微觀輪廓圖形、支撐率曲線和統(tǒng)計數(shù)據(jù)

操作簡單-通過配置上下文提示功能鍵的觸摸屏，操作簡單

記錄方便-集成了打印機(jī)，可及時記錄測量結(jié)果文件，方便簡單

測量可靠-通過內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊，可及時檢測測量儀，保證了測量的可靠性

Waveline™20給進(jìn)單元，用于粗糙度和波紋度的精密測量

   集成啟動按鈕，可單手操作

   配置高精密導(dǎo)軌，可對直線度和波紋度進(jìn)行精密測量

   具有不同測量速度

   可測量所有位置（還可仰測）

   無導(dǎo)頭型測頭范圍廣，可針對不同應(yīng)用情況

測頭自動下沉

  測頭在工件表面自動定位并自動調(diào)整所選的測量范圍

  測量結(jié)束時測頭自動抬起，可在換工件時免受損壞

通過觸摸屏完成上下文提示操作

8個測量程序

針對4個基本功能的功能鍵

可評價所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)

公差評估的可能性廣

通過觸摸屏快速且舒適輸入其他數(shù)據(jù)

清晰顯示測量結(jié)果：特性參數(shù)、輪廓線圖形、交互支撐率曲線、廣泛的統(tǒng)計功能

Waveline™20測量站

  能使移動式W20變成完整的固定式測量站

  帶T型槽的石板規(guī)格400X280mm

  高度可調(diào)范圍300mm

  回轉(zhuǎn)裝置的回轉(zhuǎn)范圍：±45°

  可選配測量平臺和其他附件